Methoden

Wachstum und Strukturierung dünner Schichten:

  • Präparation dünner Schichten mittels Ionenstrahlsputtern, Magnetron-Diodensputtern und gepulster Laserablation.
  • Herstellung mikroskopischer und mesoskopischer Strukturen für spezifische Untersuchungen mittels Licht- und Elektronenstrahllithographie und fokussierten Ionenätzen (FIB), Nutzungszeiten im Reinstraum der Fakultät für Physik.
  • Grundcharakterisierung von Dünnfilmproben mittels Röntgenbeugung, Rasterelektronenmikroskopie und Rastersondenmikroskopie.
Transmissionselektronenmikroskopie:
  • Hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie für Abbildung, Beugung und Konzentrationsanalysen (EDX: energiedispersive Röntgenspektroskopie).
  • Nutzung des Titan E-TEM (environmental transmission electron microscope), höchstauflösende Analysen in Anwesenheit von Reaktionsgasen incl. Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS).
  • Probenhalter mit integrierter Rastertunnelspitze für lokale elektrische Messungen, optional auch unter Beleuchtung.
  • Nutzungsmöglichkeiten für Halter mit Heiz- bzw. Kühlmöglichkeiten (Hoch- und Tieftemperaturmessungen).
Bestimmung von Transporteigenschaften:
  • Nutzung des Physical Property Measurement Systems (PPMS), Messungen im Temperaturbereich von 4.2 K bis 300 K, Magnetfelder von 0 bis 9 T.
  • Magneto-optische Abbildung von magnetischen Feldverteilungen
  • Spektral aufgelöste photovoltaische Charakterisierung im Temperaturbereich von 4.2 K bis 300 K.
  • Untersuchungen zur Reaktionskinetik elektrochemischer Reaktionen mittels eines „Rotating Disk“ Zellsystems.
  • Wärmeleitfähigkeitsmessungen an dünnen Filmen mittels der 3-Omega-Methode im Temperaturbereich von 10 K bis 900 K.